El Gastronomic Forum, que se celebrará del 2 al 4 de noviembre en el recinto de Gran Via de Fira de Barcelona, pondrá el foco en la tradición y dará voz por igual tanto a grandes nombres de los fogones como a jóvenes talentos. Lo ha confirmado Pep Palau,...
Mettler-Toledo presenta sus nuevos sistemas combinados CM (control de peso y detección de metales) y CX (control de peso y rayos X) para optimizar la detección de contaminantes y garantizar el cumplimiento de los puntos críticos de control (PCC) de calidad.
Estas novedosas soluciones de inspección 2 en 1 integran la precisión de las controladoras de peso de la serie C con los detectores de metales M30R y los sistemas de inspección por rayos X de la serie X2.
Ofrecen mayor flexibilidad para elegir el sistema que mejor se adapte a los requisitos de aplicación, empaquetado y presupuesto, además de mayor sensibilidad del detector y, con ello, mayor seguridad.
Los nuevos sistemas detectan contaminantes como vidrio, metal, piedras, plásticos densos y compuestos de caucho que pueden introducirse en los procesos o a través de los ingredientes en la fabricación de alimentos y bebidas.
